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0 索取号:TP11-53/E905/2 作者:National Online Meeting (1981 : New York、 N.Y.)、Williams、 Martha E.、Hogan、 Thomas H.、 出版社:Medford, NJ : Learned Information, c1981.
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0 索取号:TP1-55/E906 作者: 出版社:Berlin ; New York : Springer-Verlag, 1981.
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0 索取号:TN98-53/E801 作者:Synthetic Aperture Radar Technology Conference (1978 : Las Cruces)、National Aeronautics and Space Adiminstration、 Johnson Space Center.、New Mexico State Univ.、 出版社:Las Cruces : MMSU PSL, 1978?
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0 索取号:TU37/E20042 作者:Englekirk、 Robert E.、 1936-、 出版社:Hoboken, NJ : Wiley, 2003.
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0 索取号:R-32/E20041.2 作者:Woolson、 Robert F.、Clarke、 William R. (William Radue)、 出版社:New York : Wiley-Interscience, c2002.
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0 索取号:TP14-53/E991 作者:Gesellschaft für Klassifikation. Jahrestagung (17th : 1993 : University of Kaiserslautern)、Bock、 Hans Hermann.、Lenski、 Wolfgang、 1952-、Richter、 Michael M.、 1938-、 出版社:Berlin ; New York : Springer-Verlag, c1994.
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0 索取号:TP15-53/E905/17 作者:Simulation Symposium (17th : 1984 : Tampa、 Fla.)、Comer、 Edward R.、 出版社:Silver Spring, MD : IEEE Computer Society Press, c1984.
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0 索取号:TP11-53/E908 作者:Washington Ada Symposium (2nd : 1985 : Laurel、 Md.)、Johnson、 Joseph P.、SIGAda.、Association for Computing Machinery. Washington、 D.C. Chapter.、Applied Physics Laboratory Computer Society (Johns Hopkins University)、ACM Digital Library.、 出版社:New York, N.Y. : Association for Computing Machinery, c1985
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0 索取号:D871.22/E20041 作者:Art、 Robert J.、 出版社:Ithaca, N.Y. : Cornell University Press, 2003.
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0 索取号:H315/E200317.4 作者:Dees、 Robert.、 出版社:New York : Longman, c2003.
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0 索取号:TN4/E702 作者:Newcomb、 Robert W.、 出版社:Englewood Cliffs, N.J. : Prentice-Hall, [1968].
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0 索取号:C936/E20037.3 作者:Kreitner、 Robert.、Kinicki、 Angelo.、 出版社:Chicago : Irwin, c1995.
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0 索取号:F224.1/E803.3 作者:Pindyck、 Robert S.、Rubinfeld、 Daniel L.、 出版社:New York : McGraw-Hill, c1991.
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0 索取号:F275/E20033.4-2 作者:Higgins、 Robert C.、 出版社:Boston, Mass. ; Chicago : Irwin, c1995.
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0 索取号:TN06-53/E801/9 作者:International Reliability Physics Symposium. (9th : 1971 : Las Vegas、 Nev.)、Institute of Electrical and Electronics Engineers. Electron Devices Group.、IEEE Reliability Group.、 出版社:New York : Electron Devices and Reliability Groups of the Institute of Electrical and Electronics Engineers, c1971.
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0 索取号:O63/E20032 作者:Vos、 Johannes G.、Forster、 Robert J.、Keyes、 Tia E.、 出版社:Chichester : John Wiley & Sons, c2003.
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